El Profilm3D utiliza la más moderna interferometría de luz blanca (WLI) combinado con interferometría de desplazamiento de fase de alta precisión (PSI). Esto proporciona acceso a la topografía de la superficie desde un subnanómetro hasta una escala milimétrica.
Capacidad de análisis:
Filtro de corte de rugosidad y ondulación, Filtrado espectral y FFT, Calculo de volumen, Múltiples técnicas de altura de paso: línea, rectángulo e histograma.
Película de proceso
